SPM-A2048CL 超低杂散光光谱仪是一款兼具高精度测量性能与紧凑结构设计的专业光谱测量设备，适用于可见光与近红外光谱的高速检测与分析。该设备采用高性能CMOS探测器与精密光学结构设计，杂散光低至 0.1%，信噪比高达 375:1，能够提供稳定、可靠的高精度光谱数据。
产品经过 NIST可追溯校准，可实现绝对辐照度测量，并支持与研鼎多光谱光源系统联动，实现光谱数据的精准复现与分析。同时，设备支持USB接口通信及软件控制，可作为独立高精度光谱测量设备，也可方便地集成到各类光学测试系统中，广泛应用于科研实验、工业检测、光学测试与图像质量评估等领域。

产品特色

超低杂散光设计
采用优化光学结构，杂散光低至 0.1%，显著提升测量精度，适用于高要求光谱分析场景。
高信噪比检测
信噪比高达 375:1，可稳定捕获弱光信号，提高光谱测量的可靠性与稳定性。
NIST可追溯校准
采用 NIST可追溯标准光源校准，确保光谱数据准确可靠，满足科研及工业级应用需求。
光谱复现能力
结合研鼎自主研发的多光谱光源系统，可根据测量光谱数据进行精准复现，支持光源模拟与测试验证。
高速数据采集
高速采样能力支持快速光谱扫描，适合动态光源测量及自动化测试系统。
灵活系统集成
紧凑型结构设计与USB通信接口，便于集成至各类光学测试平台和自动化测试系统。

规格参数

参数类别
参数项目
规格
产品信息
产品型号
SPM-A2048CL
物理参数
尺寸
105 mm × 80 mm × 20 mm
重量
277.5 g
环境参数
工作温度
5 – 55 °C
存储温度
5 – 55 °C
电源
供电方式
USB供电，500 mA
光谱性能
测量波长范围
300 – 1100 nm
辐照度校准范围
350 – 1020 nm
光谱分辨率 (FWHM)
2.5 nm
信噪比
375 : 1
杂散光
0.1 – 1 %
积分时间
9 μs – 30 s
探测器
探测器类型
CMOS
像素数量
2048 像素
像素尺寸
14 × 200 μm
数据处理
AD转换器
16-bit，6 MHz
采集性能
数据传输速度
0.79 ms / scan
采样频率
0.36 ms / scan
测量功能
光谱测量
支持绝对辐照度测量
数据输出
光谱曲线及光度学参数
光谱复现
光源复现
支持通过研鼎多光谱光源系统复现测量光谱
系统控制
控制方式
计算机程控
通讯接口
接口类型
USB 2.0
传输速率
480 Mbps
软件支持
配套软件
YD-SpectroView 光谱仪控制软件
支持系统
Windows 10 / Windows 11
API接口
支持二次开发
配件
探头
光纤及配套余弦矫正器
包装清单
标配
主机×1、光纤×1、规格书×1、使用手册×1、检测报告×1