采用高精度波形记忆分析方式的镜头快门测试设备。
套装价:
¥{{Number(dataMealDetail_id.price).toFixed(2)}}快门测试仪 / 光圈面积计
SLE-3700
采用高精度波形记忆分析方式的镜头快门测试设备。
产品特色
具备闭合动作检测点设定功能、反弹检测功能
可进行光圈口径误差测量
支持15次/秒的连续测量
规格参数 / Specifications
产品型号 | SLE-3700 |
测试对象 | 数码相机用快门组件 |
测量项目 | - 全开时间(T1) - 闭合操作时间(T2) - 有效曝光时间(TE) - 光圈值(Av) - 曝光值或光圈值差异(⊿EV) |
T2 闭合动作检测点设定范围 | 0-100%、5-95%、10-90%、15-85%、20-80% |
有效光圈口径测量范围 | φ14.0〜φ1.0 |
测量范围 | ±4EV(曝光误差) 1〜11AV(光圈值) 1/30〜1/4,000秒(曝光时间) |
测量精度 | ±15μs(时间测量) ±0.05EV(光圈值/曝光值) ±0.03EV(IRIS模式下的光圈测量) |
电源 | AC100〜240V(50Hz/60Hz)・90VA |
外形尺寸 | 控制单元:130(宽)×127(高)×286(深)mm・5kg 光源与接收器:90(宽)×169(高)×304(深)mm・2kg |
外部接口 | RS232C |
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